產(chǎn)品特點： 
日本ORC,臺式型UV照度計配件,受光器, UV-SD42；
 
日本ORC,臺式型UV照度計UV-M10-S-02配件,受光器, UV-SD42；
用于管理使用的紫外線照射紫外線強度的測量儀器系統(tǒng)。因為預設(shè)了控制信號切換點輸出，所以可以用來控制UV照射裝置等的曝光量度。

特點：
1.在紫外線照度計簡單的測量，可以輸出一個紫外線照射的控制信號。
2.10個照度頻道設(shè)置，照度測量，發(fā)光強度測量，設(shè)置計時器，預備時間測量等多種功能。
3.在照度測量中，發(fā)光強度顯示和時間顯示可自由切換。
4.受光器已被使用，根據(jù)紫外線的敏感度以及測試范圍有UV-25，35，42可供選擇。在半導體，液晶用基板的制造的工序中選用UV-SD42，UV-SD35，UV-SD42；在電子電路(印刷)基板的制造工序中選用UV-SN25，UV-SN35，UV-SN42。
測量數(shù)據(jù)，可通過RS-232C接口連接到PC，同時還具有模擬輸出。

◆SD型和SN型：
SN型由于承蒙從以前使用本公司制的曝光裝置和照射裝置等被的顧客寬廣地采用的東西，確保著流程管理的繼續(xù)性采用的類型。
SD型在半導體和液晶用基板的制造流程中使用，已經(jīng)使用的顧客，如果被重視跟那些的測量器的數(shù)據(jù)的兼容性確保的(本公司制的曝光裝置在投影型曝光裝置和液晶基板用周邊曝光裝置SD型也被采用)，完全被新規(guī)章變成發(fā)光強度計等為使用的顧客推薦著其他公司制的發(fā)光強度計。
 
◆SD型和SN型讀?。?br> SD型和SN型閱讀，確保從以前的過程數(shù)據(jù)的兼容性（如由高壓365nm的紫外燈照射線相同的測量條件下，測得用作輻射源校準在我們組測量當顯示的強度值：mW/cm2）進行調(diào)整，顯示39%的較高反映。
 
◆照度計與數(shù)據(jù)兼容性：
紫外線照射在測光表上顯示（測光表是來衡量LUX博物館和辦公樓，商場的亮度），測后調(diào)整差異，適用所有的紫外線照射標準（運行中，數(shù)量限制性，JIS一個小的應用程序）。
每家生產(chǎn)光源的企業(yè)相對于紫外線的光感度，是用于測量照度。光線作為一個開端來源的主要是365nm，測量峰值波長（波長在一個相對紫外線光感度顯示）提出排放，短波長（約300nm-310nm）和長波（約380nm-400nm）的曲線呈上升趨勢略有不同波長，前、后倒下。
拉近了與接收器的接收角特性理想曲線。
 

特點：
1.在紫外線照度計簡單的測量，可以輸出一個紫外線照射的控制信號。
2.10個照度頻道設(shè)置，照度測量，發(fā)光強度測量，設(shè)置計時器，預備時間測量等多種功能。
3.在照度測量中，發(fā)光強度顯示和時間顯示可自由切換。
4.受光器已被使用，根據(jù)紫外線的敏感度以及測試范圍有UV-25，35，42可供選擇。在半導體，液晶用基板的制造的工序中選用UV-SD42，UV-SD35，UV-SD42；在電子電路(印刷)基板的制造工序中選用UV-SN25，UV-SN35，UV-SN42。
測量數(shù)據(jù)，可通過RS-232C接口連接到PC，同時還具有模擬輸出。

◆SD型和SN型：
SN型由于承蒙從以前使用本公司制的曝光裝置和照射裝置等被的顧客寬廣地采用的東西，確保著流程管理的繼續(xù)性采用的類型。
SD型在半導體和液晶用基板的制造流程中使用，已經(jīng)使用的顧客，如果被重視跟那些的測量器的數(shù)據(jù)的兼容性確保的(本公司制的曝光裝置在投影型曝光裝置和液晶基板用周邊曝光裝置SD型也被采用)，完全被新規(guī)章變成發(fā)光強度計等為使用的顧客推薦著其他公司制的發(fā)光強度計。
 
◆SD型和SN型讀?。?br> SD型和SN型閱讀，確保從以前的過程數(shù)據(jù)的兼容性（如由高壓365nm的紫外燈照射線相同的測量條件下，測得用作輻射源校準在我們組測量當顯示的強度值：mW/cm2）進行調(diào)整，顯示39%的較高反映。
 
◆照度計與數(shù)據(jù)兼容性：
紫外線照射在測光表上顯示（測光表是來衡量LUX博物館和辦公樓，商場的亮度），測后調(diào)整差異，適用所有的紫外線照射標準（運行中，數(shù)量限制性，JIS一個小的應用程序）。
每家生產(chǎn)光源的企業(yè)相對于紫外線的光感度，是用于測量照度。光線作為一個開端來源的主要是365nm，測量峰值波長（波長在一個相對紫外線光感度顯示）提出排放，短波長（約300nm-310nm）和長波（約380nm-400nm）的曲線呈上升趨勢略有不同波長，前、后倒下。
拉近了與接收器的接收角特性理想曲線